5G高頻測試掀革 量測儀器研發方向大轉彎

作者: 黃耀瑋
2014 年 11 月 24 日

5G將加速驅動量測儀器設計革命。歐洲、亞太區各國正積極研究5G通訊標準,並研擬採用毫米波頻段、超高即時頻寬,甚至是全新調變技術,將引發複雜多樣的研發和測試挑戰,因而刺激一線量測業者轉攻PXI模組化儀器設計,並加碼布局外接升降頻器及測試軟體程式,以滿足5G技術發展需求。



美商國家儀器東亞區副總裁Ajit Gokhale認為,對尚未完成定義的通訊標準研發和測試而言,PXI模組化儀器將是理想的解決方案。



美商國家儀器(NI)東亞區副總裁Ajit Gokhale表示,距離5G行動通訊商用部署僅剩5年時間,全球通訊標準聯盟、實驗室、電信商、設備和晶片業者無不加緊投入研發,連帶激起量測方案革新需求,主要儀器商已聚焦28G~100GHz以上毫米波頻段、1GHz即時擷取頻寬,以及新興的通用分頻多工(GFDM)調變機制等5G規範可望導入的技術規格,展開測試方案研發前哨戰。


美商國家儀器大中華區行銷總經理郭皇志補充,5G標準演進方向雖已有眉目,但目前各國選用的頻段卻不盡相同,如三星(Samsung)從28GHz頻段切入,諾基亞通信(NSN)選擇70GHz、愛立信(Ericsson)鎖定15GHz,以及中國移動和台灣網通業者看好的60GHz等5G標準研究路線,導致儀器商面臨諸多設計考量和挑戰,亟須發展更具彈性且標準化的軟硬體測試平台。


由於目前5G技術處於百家爭鳴的局面,孰能正式入主3GPP或歐盟5GPPP等標準組織還在未定之天,因而導致儀器商擴大投資PXI模組化設計架構,以達成支援更多頻段,以及可彈性擴充頻寬的特色,隨時因應5G規範的轉變而調整。


Gokhale強調,行動資料量增長的速度超乎通訊產業預期,促使5G商用腳步跟著加快,如何縮短產品上市時程已成為業者較勁重點。對此,NI提出開放式PXI測試參考架構(Reference Architecture),透過PXI模組、軟體定義無線電(SDR)設計和LabVIEW可編程軟體,以同一套平台供應5G研發、原型(Prototype)測試驗證所需功能,相較於過往研發端和測試端分別採用不同量測方案的形式,將顯著提高開發效率。


事實上,即便是單機型儀器開發商,為跟上LTE R10、11版本,乃至於今年底將登場的R12標準演進腳步,亦開始將儀器內部連接介面換成PXI,以增進系統功能擴充的靈活度,足見PXI未來在5G測試市場的重要性將與日俱增。


與此同時,儀器商亦針對5G高頻訊號降頻分析,以及待測裝置(DUT)發送高頻訊號以驗證設計品質的需求,大舉投入布局外接升降頻器,包括是德科技(Keysight Technologies)、羅德史瓦茲(R&S)和NI,皆已與各自的合作夥伴展出相關升降頻技術。


據悉,NI近期已率先發表PXI模組化儀器結合82GHz、100GHz升降頻器的5G測試參考架構,搶占市場先機;下一步將開發支援1GHz以上即時頻寬的PXI方案,並針對更加複雜的通訊協定實體層(PHY)測試要求,新增專用LabVIEW軟體版本,協助晶片商、系統廠加快設計流程。

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